SURISE夏克-哈特曼波前传感器
波前传感器使用微透镜阵列将入射光束分成一系列较小的光束，每一束都在一个放置在小透镜阵列焦平面上的CCD摄像机上成像。如果一个均匀平面波入射到Shack-Hartmann波前传感器，将沿每个微透镜单元光轴产生一个聚焦光斑，在焦平面上产生规则排列的光斑栅格。但是，如果是扭曲的波前（即任何非平面波前），焦点将偏离微透镜单元的光轴。每个光斑圆心偏离的距离与小透镜位置的波前斜率成正比。波前相位可以根据获得的光斑偏移信息（在一个常数范围内）再构。
波前传感器可以用于激光光束参数测量，自适应光学，元器件表面质量分析，光学系统质量分析，大气扰动测量，实时控制以及高功率激光器系统等各个领域。本产品基本原理基于夏克–哈特曼波前传感技术，通过特殊技术处理可实现宽谱段的波前探测（900-1700nm），使用方便可直接测量，光路易于搭建。
可根据客户的不同参数需求定制！
| 型号 | 波长 | 微透镜阵列数 | 相机分辨率 | 像素尺寸 | 精度 | 频率 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Surise-SH | 400-1100nm | ≥10x10 | ≥300x300 | 25μm | λ/100 | 200Hz |
| Surise-SH-InGaAs | 900-1700nm | 20x20 | 500x500 | 20μm | λ/100 | 100Hz |
产品特点：
- 可定制化高，可以根据不同需求，采用不同的相机（可见光或者红外），不同的微透镜阵列数（10×10 – 100×100），不同的应用优化采样频率（10Hz – 1000Hz）
- 实现显示波前、阵列光斑图像以及泽尼克系数
- 可存储图像、斜率及泽尼克系数
- 可设定阈值，去背景噪声
- 可标定背景，测量波前相对变化
- 高精确度；
- 高稳定性；
- 长寿命易维护。
