Santec 扫描测试系统丨为光子测试提供完整而高效的解决方案
Santec 扫描测试系统以其高速分析、高分辨率和高准确性，为光子测试提供了一个完整而高效的解决方案。系统主要由可调谐激光器（TSL系列）、光功率计（MPM系列）、偏振控制器（PCU）和定制软件组成，能够优化WDL和PDL的测量。用户可以根据特定需求定制软件，提高测试的灵活性和适应性。Santec 的扫描测试系统以其卓越的性能和广泛的应用范围，是光学测试的理想选择。
特 点
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超宽调谐范围：支持1240至1680 nm的波长范围，满足多样化测试需求。
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高重复性：确保测试结果的一致性。
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多通道测量：能够同时进行多通道测量，提高测试效率。
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定制化软件支持：用户可以根据特定需求定制软件。
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高速分析：系统能够快速进行测试的同时确保测试的即时性和准确性。
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实时功率参照：实时功率参照，确保测试的精确与高效。
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高分辨率：采用先进算法，实现波长分辨率和测量准确性的最大化。
应 用
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光通信组件测试：光纤放大器、光开关、耦合器、分路器等性能评估。
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光子材料表征：用于研究和表征新型光子材料的特性。
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光谱学分析：在光谱分析领域提供高精度的测量工具。
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WDL和PDL测量：评估光纤和光通信系统中的损耗特性。
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光信道监测：监测光通信系统中的信号质量，确保数据传输的稳定性和可靠性。
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DWDM组件测试：评估DWDM系统中使用的组件性能。
典型配置
搭配偏振控制器和光功率计的IL/PDL测量配置
搭配光功率计的IL测量配置
Santec扫描测试系统以其卓越的性能特点和多样化的应用场景，提供高效的测试解决方案。
