Phasics超高真空度适用波前传感器SID4-V
法国Phasics SID4-V波前传感器是市面上首款适用于高真空环境的高分辨率波前传感器。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空度达10-6 mbar的环境下对激光波前/激光光束质量/等离子体密度/气体射流等进行测量。主要用于高真空度的光学系统装配以及高功率激光测试。
| 真空兼容性 | > 10 -6 mbar |
| 波长范围 | 400-1100 nm |
| 光圈尺寸 | 4.73 x 3.55 mm 2 |
| 最大NA（必要的可选软件） | 0.2 |
| 空间分辨率 | 29.6 µm |
| 相位和强度采样点 | 160 x 120 |
| 精度 | 15 nm RMS |
| 分辨率 | 2 nm RMS |
| 采样频率 | 60 fps |
| 实时处理频率 | 7 Hz（全分辨率） |
| 接口 | 千兆以太网 |
| MTBF | > 10年 |
| 尺寸 | 54 x 46 x 75.3毫米 |
| 重量 | ~250克 |
Phasics超高真空度适用波前传感器SID4-V
技术优势：
- 真空兼容性> 10-6 mbar
- 高分辨率160 x 120相位像素
- 光谱范围为400 nm至1100 nm
- 可测量发散光束
- 不受热和机械真空限制的影响
- 容忍真空循环而不降低性能
- 真空和大气压下均可作用
- 低放气
应用方向：
- 高功率激光束质量分析
- 自适应光学
- 热成像，等离子体密度，气体射流
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！
PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。
SID4密度软件
SID4 DENSITY软件包支持测量气体和等离子体电子密度的整个过程。它通过相位采集计算密度图。它还提供各种采集和数据分析选项。
| 工作环境 | |
| 应用 | 任何轴对称单原子气体射流/等离子体用于逆Abel变换分析 |
| 探测源 | 白光（卤素灯），LED，激光或fs激光 |
| 压力 | 从2到300巴 |
| 等离子长度 | 取决于成像系统（通常2毫米长，直径0.2毫米） |
| 软件 | |
| 获得 | 实时，编程，触发 |
| 设置 | 波长，放大倍率，喷射方向，气体类型 |
| 分析 | 密度图和配置文件，对称化，过滤器 |
诸如空间分辨率或密度分辨率的性能完全取决于光学设置（成像系统，探针源）和注入气体（摩尔折射率）。请联系我们以估算您的设置规格。
例如，对于使用工作压力在2和300巴之间的氩气射流的激光产生的等离子体，单次射击中测得的最低氩密度为：1017个颗粒/ cm3，喷嘴直径为1.5mm。
