ISTEQ等离子体EUV光源TEUS
ISTEQ公司开发了一种基于激光产生等离子体(LPP)的EUV光源。该光源具有极高的亮度和极高的稳定性。它采用可自刷新的材料,无需中断和更换燃料盒,因此持续运行时间极长。
ISTEQ公司为LPP光源开发的燃料是针对特定应用的光谱范围而设计的。然而,对于掩模检查的应用,公司开发了一种高频锡旋转靶,已在全球范围内获得专利。
自从业界选择遵循EUV路径以来,Isteq集团一直在研究这项技术。我们开发了一种基于激光等离子体(LPP)的EUV源。光源具有极高的亮度和极高的稳定性。它还具有可更新的燃料,不会中断,也无需更换燃料盒,因此为行业提供了极高的正常运行时间。
我们为LPP源开发的燃料特定于特定应用的光谱范围。但是,对于掩模检测应用,我们开发了一种高频锡旋转靶,该靶材已在全球范围内获得专利。
由于我们的团队在该领域获得的经验和专业知识,我们用于生产EUV的技术与其他竞争对手相比具有许多优势。ISTEQ的XWS光源产品经过专门开发,可用于各种应用,包括光谱学,高分辨率显微镜,薄膜测量,表面测量等。 这些资源基于尖端技术,并受到全球专利的保护。
ISTEQ等离子体EUV光源TEUS参数
型号 | TEUS S-100 | TEUS S-200 | TEUS S-400 |
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激光平均功率W | 100 | 200 | 400 |
脉冲重频 kHz | 25或70 | 50或135(可调) | 100或200(可调) |
EUV功率立体角 sr | 0.05 | ||
等离子体尺寸 μm | ≤ 60或 ≤ 40 | ≤ 60或 ≤ 45 | |
带内辐射转换效率(13.5 nm±1%) | 2 % @2π·sr or 1.6% @2π·sr | ||
碎片处理系统后角内光通量mW | 11 或 9 | 22 或 18 | 44 或 40 |
碎片处理系统后光谱亮度W/mm2·sr | ≥ 80或 ≥ 140 | ≥ 160或 ≥ 280 | ≥ 310或 ≥ 500 |
等离子体稳定性 | 3% rms | ||
在24/7运行状态下,在不使用特殊膜过滤器情况下,收集器寿命下降10% | 不少于8个月 | 不少于4个月 | 不少于2个月 |
在24/7运行状态下,使用特殊膜过滤器情况下,收集器寿命下降10% | 不少于18个月 | 不少于9个月 | 不少于4个月 |
维护时间间隔 | 4 个月 - 1 天 | 3个月 - 2天 | 2个月 - 1天 |
24/7 运行模式下的正常运行时间*** | 4个月 | 3个月 | 1个月 |
电源 | 5 kW | 8.5 kW | 10.5 kW |
尺寸(长×宽×高)mm | 1500×1000×1200 | ||
重量,包括激光组件 kg | 770 | ||
房间洁净度等级 | ISO 7 | ||
水流量 | 10升/分钟 | 15升/分钟 | 25升/分钟 |
产品特点:
- 高亮度以及出色的稳定性
- 最少的碎片
- 极高的正常运行时间
- 高占空比和交钥匙操作
- 用户友好的自动化协议,确保系统平稳运行,没有中断的风险。
产品应用:
- 掩模和表面检查:
- 图案掩模检测 (PMI)
- 区域掩模检测 (AIMS)
- 掩模空白检测 (MBI)
- EUV 扫描仪检
- 材料科学
- 晶圆检查