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解决方案

OPS-1000丨3D光学轮廓测量解决方案,让复杂轮廓测量变得简单

OPS-1000丨3D光学轮廓测量解决方案,让复杂轮廓测量变得简单

在当今快速发展的工业领域,对高精度和高效率测量的需求日益增长,但是普通检测技术在测试灵敏度、工作距离、测量重复性存在局限性,因此SS-OCT技术成为精密加工测量领域的理想选择。 得益于Santec强大扫频激光器以及系统建设能力,Santec推出的基于SS-OCT技术的光学轮廓仪OPS-1000,解决了精密加工件的3D光学测量需求。该产品具备非接触式、快速且高精度的测量性能,无需考虑物体的形状、材料、颜色或表面条件,是研发和生产环境中的理想选择。 特  点 高灵敏度:OPS-1000拥有超过70dB的系统动态范围,以及100dB的最小光探测灵敏度,使其能够捕捉到极其细微的表面变化,满足严格的测量标准。 高重复性:微米量级的测量重复性。 同轴测量:采用的同轴测量技术,使得即使面对形状复杂的物体,也能轻松进行精确测量,提高了测量的准确性和可靠性。 高速测量:能够实现每秒40万点的高速测量,适合于需要快速反馈的全自动检测流程。 不受环境光影响:采用相干测量原理,不受环境光(如阳光或生产环境中的光)的影响,确保了测量的准确性和可靠性。 应 用 工业产品和材料3D测量:可用于精确测量工业产品和材料的3D形状和尺寸。...

MTF没有告诉你的六大镜头特性

MTF没有告诉你的六大镜头特性

1. 镜头耀光 (flare) 2. 色彩传输 (color transmission) 3. 近摄光学表现 (close-up performance) 4. 畸变 (distortion) 5. 暗角 (Vignetting) 6. 散景 (bokeh) MTF测试是价值中立的量化工具,分数则否 业余摄影玩家们对手边的器材,多少都有一点好奇心,总想知道这只镜头的表现,能否符合自己心中的那一把尺。往昔有专业杂志提供严谨的「测试报告」 (Test report) ,详列各种客观科学测量数据,都是在严格控制参数下进行调查,像是日文摄影期刊《アサヒカメラ》在1957年开辟的「ニューフェース诊断室」专栏,本身就是相当具有参考价值的专业测试报告。 日文摄影期刊アサヒカメラ于1957年开辟了「ニューフェース诊断室」专栏,直到停刊为止,都是相当具有参考意义的专业测试报告。报告中的「コントラスト减少率」曲线图表,即为MTF。除此之外,还有更多项目都需要利用专门的科学仪器进行客观测试。图片来源:アサヒカメラ,1999年11月 另一种比较轻松休闲的内容,名为「试用报告」 (field review)...

扩展短波红外波段的光谱成像技术

扩展短波红外波段的光谱成像技术

一些材料的特性可借助光谱成像技术(尤其是1700 nm以上的扩展SWIR波段光谱成像)进行鉴别。在这一波段进行红外光检测的难处在于需要高度成熟的传感器技术。然而,适配这一用途的传感器技术又各有优劣,这里将为您简要介绍一些示例。 硅基传感器可针对其使用的玻璃材料以及内部结构进行优化,使之能够在最低至200 nm的紫外线范围内依旧保持灵敏,或在750 nm以上至最高1100 nm波长内提供更高的灵敏度(NIR传感器)。然而,当波长达到1050 nm以上时,传感器的量子效率通常低于10%并急剧下降,这是因为硅基材料面对大约1100 nm以上波长的光时趋近透明。因此,需要通过其他传感器材料来检测波长超过1100 nm的SWIR波段光线。 XSWIR传感器技术 最常见的短波红外(SWIR)传感器类型使用了铟镓砷 (InGaAs) 等材料。这种传感器通常对900至1700 nm波段的光较为敏感。然而,如果将亚磷酸铟层的厚度加工到足够纤薄,从而使可见光能够到达InGaAs的感光层,则传感器也可以检测可见光波段的光线。例如索尼的IMX99x...

TMS-2000丨晶圆测试领域的高精度解决方案

TMS-2000丨晶圆测试领域的高精度解决方案

随着半导体技术的不断进步,晶圆的制造精度要求也日益提高。Santec针对这一需求,推出了TMS-2000高精度晶圆厚度测量系统,旨在解决晶圆表面研磨厚度不均和抛光均匀度等问题,从而有效避免因晶圆厚度不均导致的封装问题。 TMS-2000系统采用非接触方式测量晶圆的厚度分布,能够对晶圆的整体、局部以及边缘的平整度进行重复性测量,提供高达1nm的重复性精度。这一高精度的测量能力,得益于其先进的干涉探测技术。同时,TMS-2000还具备良好的环境适应性和稳定性,即使在测试环境温度剧烈变化或振动不稳定的情况下,也能保持测量精度,解决了传统晶圆厚度映射测试技术中的精度问题。 特点 •高精度测量:基于干涉探测技术,实现1nm的重复性精度,确保晶圆厚度测量的高精度。 •环境适应性:即使在温度变化剧烈或振动不稳定的环境中,也能保持测量精度。 •紧凑的尺寸:设备体积小,节省空间。 •自动定位和坐标数据加载:工作台可容纳12英寸的晶圆,自动定位缺口位置和晶圆中心,自动加载坐标数据,简化操作流程。 •多种测量和分析功能:除了厚度测量和线轮廓分析外,还能进行平整度参数的统计分析,并支持数据的任意形式显示与输出。 应用...

190-400nm高分辨紫外波前传感器助力半导体行业发展!

190-400nm高分辨紫外波前传感器助力半导体行业发展!

本文介绍了紫外波前传感器在半导体检测中的应用。详细阐述了其在晶圆检测、芯片检测、封装检测以及光学元件检测中的具体应用。指出紫外波前传感器能够提供高精度的检测数据,帮助工程师及时发现问题并进行修复,从而提高产品质量和生产效率。   上海旭为光电科技有限公司推出全新一代高分辨率紫外波前传感器,探测波段覆盖190-400nm。该高分辨率紫外波前传感器具有可测试汇聚光斑,高动态范围,大通光面(13.3mm x13.3mm),高分辨率(512x512),消色差,震动不敏感等特点。半导体技术在现代社会中扮演着越来越重要的角色。随着半导体器件尺寸的减小和集成度的提高,对检测技术的要求也越来越高。紫外波前传感器作为一种高精度的光学检测手段,在半导体检测领域发挥了越来越重要的作用,应用范围也越来越广泛。 工作原理:  ...

Acqiris扫频OCT高速数据采集卡! 采样速度高达4GS/s!

Acqiris扫频OCT高速数据采集卡! 采样速度高达4GS/s!

Acqiris高速数据采集卡为扫描源光学相干断层扫描(SS-OCT)提供了卓越的数据采集解决方案。这套数据解决方案的采样速度最高可达4GS/s,A-scan速度更可达2MHz,为SS-OCT技术的进一步发展和应用提供了有力保障。上海昊量光电作为专业的光电代理商以及Acqiris的合作伙伴,可为您提供专业的选型以及技术服务。 扫描源光学相干断层扫描(SS-OCT)是一种高分辨率、非侵入性的成像技术,广泛应用于医学、生物医学和工业领域。SS-OCT通过扫描光源的光谱来获取图像,与传统的时间域光学相干断层扫描(TD-OCT)相比,其优势在于更快的成像速度和更深的成像深度。通过使用光源的整个频谱,SS-OCT可以获得更高的信号强度和更大的信号动态范围,从而实现更高的成像分辨率和对比度。 尽管SS-OCT具有许多优势,但也存在一些局限性和弱点,SS-OCT系统通常需要使用高速的扫频光源来获得成像速度的提升。但在扫描速度变快的同时,配套的OCT数据采集设备也需要跟上光源的步伐。然而目前OCT的数据采集系统并不能完全满足日益增长的SS-OCT的需要。...

【哈特曼传感器】测量涡旋激光模式

【哈特曼传感器】测量涡旋激光模式

01丨介绍     带轨道角动量(OAM)的激光光束,也叫涡旋光束。相应的波前为涡旋结构,通常用拉盖尔-高斯模式描述。图1显示了涡旋模式波前的例子,几幅图具有不同的拓扑荷。 图1. 拓扑荷分别为1, 2, 3的涡旋模式模拟图     OAM光束可以通过螺旋相位板、计算机全息图、空间光调制器、光学纳米天线阵列或环形谐振腔生成。其应用包括光镊中的旋转粒子捕获、弱微流体电流生成、STED显微镜、通过螺旋相位对比成像的边沿滤波、以及改进光学数据传输和量子密码。夏克-哈特曼波前传感器是OAM光束评价中的一种多功能工具。下文描述如何用Optocraft的夏克-哈特曼波前传感器SHSLab进行涡旋波前的测量与评价。 02丨实验     实验光路如图2所示:光从光纤耦合的激光二极管出射,波长为635nm,经过准直,通过螺旋相位板。夏克-哈特曼波前传感器SHSCam-BR-110-GE的横向分辨率为58×43的微透镜阵列,被直接放置在相位板后,以便将波前的传播效应最小化。为简单起见,没有使用中继光学元件。首先,从光路中移去相位板进行测量,作为之后测量的参考。实验测量了不同拓扑荷(分别为1,2,3)的螺旋相位板。 图2. 涡旋波前测量的实验光路 03丨结果    ...

一看就懂的哈特曼波前传感器

一看就懂的哈特曼波前传感器

夏克哈特曼波前传感器的使用方法及特点   光学波前传感器 ,是通过一个微透镜数组,得到波前的局部斜率。从这个信息中,可以实时测量光强、位相、像差、PST、MTF和其它参数。   夏克哈特曼传感器是在经典夏克哈特曼测量方法的基础上发展起来的波前测量仪器。它与传统的数字式干涉仪比较具有结构简单、没有移动部件、抗震动能力强、对被测光的相干性没有要求、使用时无需参考光、可实时记录波前变化过程、并同时适用于连续光和脉冲光的测量等优点,现已广泛地应用在自适应光学系统的实时波前探测、激光器光束质量诊断、大口径光学元件面型检测以及记录镜面连续变化过程中。   优点   快速测量波前,对振动不敏感   较大的动态范围,可用于直接测量某些非球面,特别适合光学系统初期装调 缺点   空间分辨率依赖于微透镜阵列,远比干涉仪低   其特性强烈依赖于软件功能 应用   准分子、YAG等激光器的光束诊断   光学元件变形测量 大型非球面反射镜和光学系统像差测量 湍流环境下光学系统像差测量 哈特曼传感器测量原理  ...

ALPAO网络研讨会-用于实时校正大气湍流的硬件和软件解决方案

ALPAO网络研讨会-用于实时校正大气湍流的硬件和软件解决方案

网络研讨会主题:用于实时校正大气湍流的硬件和软件解决方案 想知道如何在您的观测项目中克服大气湍流的挑战吗?不要再看了!ALPAO很高兴邀请您参加我们即将与Optica合作的网络研讨会! 日期: 16 5月 2024 时间:美国东部时间上午10点 可应要求提供重播 我们很高兴有如此著名的演讲者:Olivier Guyon博士 - 斯巴鲁望远镜Naoj的全球知名天文学家,2012年麦克阿瑟奖学金获得者,以及David Barr博士 - 杜伦大学的RTC工程师。 在本次网络研讨会中,我们将揭开 RTC 的神秘面纱,从介绍基本概念到深入的技术讨论,以及跨各个领域的实际应用示例。 这是一个与该领域的领先专家学习和互动的真正机会! 立即注册 :...

ALPAO变形镜最新紧凑型实时计算平台(RTC)

ALPAO变形镜最新紧凑型实时计算平台(RTC)

ALPAO公司拥有超过 16 年的经验,旨在通过消除像差实现光学革命。自 2008 年以来,公司设计并制造了全套自适应光学产品。ALPAO变形镜广泛应用于科研和工业领域。 ALPAO了解客户的需求,并为客户的科研以及工业应用提供最佳组件:可变形反射镜、波前传感器和软件。ALPAO的产品专为天文学、眼科学、显微镜、无线光通信和激光应用等各种应用量身定制。这些产品具有很高的性能,以及高分辨率的图像。 ALPAO推出了新型的,紧凑型实时计算平台(Real Time Computer,RTC)。紧凑型实时运算平台基于 CPU linux 的 RTC,运行频率高达 5kHz,纯延迟低于 <150µs。紧凑型实时计算机紧凑的体积,非常适合应用在空间受限的自适应光学系统当中,与ALPAO变形镜可以配合使用。 紧凑型实时计算机(Real Time Computer,RTC) 紧凑型实时计算平台(RTC)主要特点: -速度最高可到5kHz -低延迟和抖动:纯延迟低至 150µs -灵活性:修改控制节点上运行的代码 -可根据要求提供单输入多输出 (SIMO) 和多输入多输出 (MIMO) 选项...