解决方案

Xenics宣布在广受欢迎的Bobcat 320系列红外相机中增加新的产品，Bobcat 320系列是业内非常畅销的型号，包括有了一款价格实惠的SWIR短波红外相机。 新扩展的Bobcat 320系列主要是用于工业应用的SWIR短波红外相机，320×256分辨率的高性能。同时，为了进一步补充该产品，Xenics还推出了三种新的经济高效的相机选项，以实现320×256分辨率空间的完整解决方案，包括以下可选型号和配置： -Bobcat+320：一种改进的高性能短波红外相机，适用于要求苛刻的应用，可选择扩展到可见波长(vSWIR)。 -Bobcat 320TE0：非制冷(TECless)相机，以最低的价格提供SWIR性能。 -Bobcat 320WL：非制冷（TECless）和无窗（WL）相机，可最大限度地减少光学元件的数量，从而减少内部反射。该相机非常适合激光束分析或波前传感等应用。 Bobcat+320将提高性能以满足苛刻应用的需求： 随着应用需求和功能差异化，Xenics对于产品的要求也变得更加严格，一个简单又具有成本效益，且性能得到改善的相机就是答案。对于高光谱应用或光谱学、半导体行业的机器视觉或监控应用尤其如此。 针对客户提出的要求，Xenics...

Phasics 的波前传感器和定量相位成像相机结构紧凑，对振动不敏感，可与任何光学显微镜集成。这使得 SID4 成为执行在线和离线材料鉴定的理想工具，例如绘制透明材料中Phasics测量折射率变化、激光诱导波前传感器测激光损伤阈值监测、光学波前传感器测量表面形貌和纳米颗粒光热成像。可以测量范围广泛的样品，包括飞秒激光刻写波导、光纤布拉格光栅、微结构光学表面、光学涂层、纳米粒子。 3D 表面形貌测量 易于集成的表面形貌测量：测量表面特性是一种控制和调整制造方法以提高样品整体性能的方法。对于此类应用，Phasics SID4 定量相位成像相机集成在商业或自制光学显微镜装置上。Phasics 的专家软件实时输出可直接转换为表面形貌的光程差(OPD) 图。用于表面测量的 Phasics 解决方案以其紧凑和易于集成而著称。事实上，SID4 波前传感器的应用与经典科学相机一样紧凑且易于集成。集成可以直接在生产线或计量实验室中进行。 被测表面在 SID4 定量相位成像相机上成像。SID4 可以直接集成在商业反射显微镜或专用在线光学系统上。由于 Phasics...

Phasics 为生产和研发环境提供用于光学质量控制、光学系统校准和表面测量的全套计量工具。Phasics 的计量仪器从独立的波前传感器到自动化测试站。提供从紫外到远红外的解决方案，并执行全面的测量，同时保持易于使用和多功能的计量仪器。测量参数包括：调制传递函数 (MTF) 波前像差、测量表面形貌测量和表面质量。下文介绍了Phasics SID4波前传感器测量元器件面形、波前误差、PSF和MTF的光路。 镜头装配测量 轻松设置单次 MTF 和 WFE 测量 Phasics 获得专利的四波横向剪切干涉仪 (QWLSI) 波前传感技术的独特能力允许在不需要任何中继光学器件的情况下测量高数值孔径光束。这一独特优势简化了测量设置。一次测量即可测量波前误差( WFE)和调制传递函数 (MTF)。物镜、子组件和最终组件的测定是完整且易于实施的。事实上，SID4 波前传感器只是简单地放置在聚焦后几毫米的发散光束中。一旦测量，波前测量可以与理论 Zemax 模拟进行比较。一些测试协议仍然需要双通道测试配置，这也与SID4 波前传感器兼容。...

Phasics的波前传感器拥有超高相位取样分辨率，宽波段响应，高相位灵敏度等特点，可以应用于激光测试、材料检验、自适应光学、定量相位成像领域，本篇文章主要介绍了Phasics波前传感器在定量相位成像中生物相位成像和显微镜相位成像领域的应用。 Phasics在光学显微镜中引入了一种新模式：定量相位成像。Phasics的创新技术依赖于类似相机的仪器，可以轻松对活细胞、组织或任何其他半透明样本等样本进行无标记成像。它提供无伪影的定量相位图像，从而准确测量有价值的参数：形态、干质量、单个细胞的密度……它适用于癌症和干细胞研究、药物筛选、血液测试……智能仪器只需插入任何光学设置简单的多模态，例如相位荧光组合，它是结合人工智能算法最容易集成的QPI技术。 Phasics QPI 相机测量什么？ 通过一次采集，Phasics 相机测量局部相移，也称为光程差(OPD)，由照常放置在显微镜下的样本引入。这款简单的即插即用相机依赖于 Phasics 的专利技术：四波横向剪切干涉仪 ( QWLSI )。它以其无缝集成（显微镜或实验条件不变）、实时测量...

热工艺在许多行业中用于材料工程，例如熔化、成型或干燥。由于加工温度可能很高，因此在加热过程之后监控冷却非常重要，而且存在一定的火灾风险，工作过程需要安全控制，这样可以安全地进行流程或暂停等待下一步。 实际上，过高的温度可能会给后续程序步骤带来麻烦。此外，储存也是一个问题，因为它可能会引起火灾，导致生产停止，损坏产品，甚至损坏工厂。 长波红外相机(LWIR)，为监测温度的适宜波长范围 长波红外LWIR相机的工作波长范围为8µm至14µm。这是测量温度高达400°C（见图1）的物体发出的热量的合适光谱带，无需照明，也不受自然光的影响。 用于此应用的LWIR相机基于微测辐射热计阵列。每个像素都充当微型温度计。组成一个传感器，它可以建立具有高空间分辨率的观察区域的热图。 图1.温度监测：热像仪（左图）检测到管道连接处接近200°C的异常温度。在可见相机上无法看到此缺陷（右图）。 正确校准后，它们甚至可以读取绝对温度，从而实现热成像。由于这一特性，长波红外热像仪是实时温度监测的良好解决方案。 Gobi+ 相机...

从学术实验室到私营公司的研发计划，从工业质量控制到生产线集成，Phasics独特的高分辨率波前传感器可以实现波前传感器激光测量，波前分析仪光学计量，波前定量相位成像并且在非常广泛的应用领域中运行。如：激光测量、光学计量学、定量相位成像和材料检测领域等等。本篇文章主要介绍了Phasics SID4波前传感器的应用领域。 Phasics SID4波前传感器的应用领域 PHASICS SID4波前传感器的应用主要包括四个领域，即激光测量、光学计量学、定量相位成像和材料检测。为了让更多人了解这些应用，下面我们列出了一些应用方便大家了解。例如，我们可以在激光测量中，描述激光束的特征，以获得其像差或传播信息。也可以通过将波前传感器与一个可变形的镜子耦合来进行自适应光学，不仅仅可以测量还可以纠正激光的像差。在光学计量学中，你可以对各种光学器件进行表征。你可以检查镜子的相位质量或透镜组件的数量，也可以测量子组件和完整的装配系统。 在定量相位成像中，你可以测量各种样品。例如红血球，细菌，但也可以进行细胞生长的跟踪，例如，看到其演变中的干质量来测量和量化细胞的含量。...

对于光束分析仪的早期设备，扫描狭缝式光束分析仪或刀口式光束分析仪是唯一可用的光束分析仪器设备选项。扫描狭缝式光束分析仪用于分析近高斯光束的椭圆(或圆形)自由空间光束，根据光束直径采用扫描狭缝或刀口技术。然而，随着CCD和CMOS传感器的出现，相机式光斑分析仪虽然逐步地应用于激光光束分析仪，但扫描狭缝检测器仍在少数激光光束特性分析应用中使用，而在这些应用中它们往往比相机式光斑分析仪的检测器具有技术优势。所以，对于如何选择光束分析仪来测量激光束需要知道两者间的相对优缺点。 狭缝式光束分析仪通过转盘的狭缝对依次扫描整个光束截面（见图1），其中一组的狭缝沿光束X轴扫描，另一组的狭缝沿Y轴扫描，X和Y轴由用户定义，一般都是对应椭圆的长轴和短轴。光束透过狭缝入射到光电探测器上，光强测量结果对应狭缝位置，在狭缝扫描的过程中采集这些数据，通过光电探测器测量和记录进入狭缝的所有光的总和。如果已知狭缝移动的速度，则可以通过光电探测器测量确定光束沿狭缝传播轴的轮廓（见图2a和图3a），描描狭缝光束质量分析仪装置的圆盘（左）通过光束旋转狭缝，在圆盘（右）后面，一个光电探测器记录进入狭缝的能量总和。 图1：扫描狭缝光束质量分析仪装置的示例...

引力波的探测装置通常需要使用一套复杂的测试测量仪器，比如用来进行信号读取或实时闭环反馈的多通道振幅相位检测装置，信号发生装置，温度压力探测装置等等。这些复杂的装置不仅占用很大的空间，信号通讯或者数字-模拟/模拟-数字转换期间可能都会产生额外的延时或噪声，从而衰减测试的质量。Moku仪器平台是一个基于FPGA开发的多功能数字信号处理工具。通过片上仪器(Instrument-on-Chip)这一理念，我们将多种引力波探测常用的测试测量功能和控制模块整合在了同一个硬件设备当中，从而大大降低了系统的复杂度，减少了延时和噪声。 Moku:Lab的解决方案可以部署到地面或者空间中的引力波探测装置当中。Moku:Lab的激光锁频器或锁相放大器可以将激光的频率长期稳定地锁定到共振腔上，并在仪器中内嵌了PID控制器、示波器、以及信号记录仪。用户可以实时地对信号与参数进行调整与监测。双通道数字相位测量仪可以实时追踪输入信号的相位、振幅、以及频率，并绘制功率密度图、Allan Deviation等常用图表。频率响应分析仪可以表征干涉仪等仪器的复频谱响应，快速绘制出系统的传递函数。同时，内置的 FIR滤波器可以产生极为精确的信号延迟(完整应用说明请点击“阅读原文”)。 Moku:Lab功能与参数 主要参数...

这篇文章主要介绍了的PHASICS公司的核心技术——波前测量。PHASICS提供所有级别的集成，从单一的波前传感器到模块，再到完整的系统，无论是干涉仪还是完整的MTF站。 在PHASICS所有的产品中都使用了一种技术，这就是所谓的四波横向剪切干涉仪。它是一种衍射光栅和传感器技术的结合。我们使用各种传感器技术来覆盖从紫外线到远红外线。 四波横向剪切干涉仪 (QWLSI)的原理 当待测波前经过波前分析仪（波前传感器）时，光波通过特制光栅后得到一个与其自身有一定横向位移的复制光束，此复制光波与待测光波发生干涉，形成横向剪切干涉，两者重合部位出现干涉条纹（图1)。被测波前可能为平面波或者汇聚波，对于平面横向剪切干涉，为被测波前在其自身严面内发生微小位移发生微小位移产生一个复制光波;而对于汇聚横向剪切千涉，复制光波由汇聚波绕其曲率中心转动产生。干涉条纹中包含有原始波前的差分信息，通过特定的分析和定量计算梳理（反傅里叶变换）可以再现原始波前(图2，3)。 图1几何光学描述波前畸形 图2相位重建示意图 图3波前相位重构原理图 QWLSI 是Shack-Hartmann 夏克哈特曼波前传感器和 Fizeau菲索干涉仪技术的代替品...

BMC是一家位于波士顿的光电公司，他们的变形镜销往全球各地，为了帮助客户更好的了解BMC变形镜，于是写了这篇文章，主要介绍了BMC变形镜常见问题。 我需要什么软件和文件来操作BMC可变形镜？ 正确操作BMC变形镜需要三个软件；包括两个配置文件。 -DM SDK: 波士顿微机械公司（BostonMicromachinesCorporation，BMC）的可变形镜软件开发工具包（DMSDK）为所有BMC产品提供了一个通用接口。它允许用户编写一个代码库，可用于任何产品。为演示DMSDK和硬件功能，提供了命令行和图形化的应用程序。提供了一个C语言应用程序接口，用于高性能应用的多功能开发。 自适应光学（AO）软件开发工具包（SDK）可作为升级版。 -DM配置文件:...